星用光電器件位移損傷評估方法 李慶; 韋錫峰; 肖文斌; 俞佳江 上海衛星工程研究所; 上海201109 摘要:位移損傷是導致星用光電器件性能衰退的重要因素之一。文章以GaAs太陽電池、CCD、光電耦合器和光敏晶體管為對象,研究了其敏感電參數隨位移損傷劑量D_d的退化行為,建立了相應的退化方程。在此基礎上,結合空間輻射環境仿真分析和地面輻照試驗,提出了一種通用的位移損傷效應評估方法。利用該方法對擬用于某太陽同步軌道衛星上的光敏三極管的在軌退化行為進行了評估,評估結果證明了該方法的有效性和可行性。 注: 保護知識產權,如需閱讀全文請聯系航天器環境工程雜志社
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