銅鎢觸頭電燒蝕機理探討
摘要：通過掃描電鏡、三維顯微鏡等設備分析CuW觸頭開斷后的燒蝕形貌,討論了CuW觸頭通電時燒蝕機理。分析結果表明,CuW觸頭在開斷燒蝕時,燒蝕位置優先出現在Cu聚集區域。而裂紋的形成由觸頭表面的電弧高溫侵蝕引起,而微裂紋在反復電弧燒蝕作用下將成為觸頭失效的根源。
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