一種提取頻高圖中O波描跡新方法
摘要：垂測儀是研究電離層中最常用的儀器之一,目前各國在世界范圍內布設了大量的垂測儀來對電離層進行常規觀測.而這些垂測儀每天都會記錄大量的頻高圖數據,因此自動度量頻高圖算法的研究則成為如何高效利用大量頻高圖數據來研究電離層的重要基礎.由于頻高圖中O波描跡的提取,對于研究不同電離層高度反射回波的擾動特征具有重要的意義,因此本文提出一種新方法用于從頻高圖中自動提取O波描跡.該方法基于滑動窗口和圖像投影技術,首先確定O波和X波描跡的交叉點,然后在此基礎上利用O波X波在頻高圖中的不同分布特征,單獨提取出O波描跡,并利用局部加權回歸算法對提取的描跡進行擬合.通過云南普洱站記錄的頻高圖數據對該算法進行驗證,將自動提取的描跡與人工提取的描跡進行對比,可接受的比例大約85.3%.對比結果表明本文提出的算法能夠較好的提取頻高圖中的O波描跡.
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