《Surface Topography-Metrology and Properties》 期刊名縮寫(xiě):SURF TOPOGR-METROL 22年影響因子:2.185 issn:2051-672X eIssn:2051-672X 類(lèi)別: 工程技術(shù) 學(xué)科與分區(qū): 儀器儀表(INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION) - SCIE(Q3)材料科學(xué),多學(xué)科(MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY) - SCIE(Q3)工程、機(jī)械(ENGINEERING, MECHANICAL) - SCIE(Q3) 出版國(guó)家或地區(qū): 出版周期: 出版年份:0 年文章數(shù):36 是否OA開(kāi)放訪問(wèn):No Gold OA文章占比:4.76% 官方網(wǎng)站: 投稿地址: 編輯部地址: