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食品中納米二氧化鈦的單顆粒-電感耦合等離子質譜法表征及其測定

王丹紅; 唐慶強; 陳祥明; 唐環宇; 葉家星; 吳文晞 福建出入境檢驗檢疫局檢驗檢疫技術中心; 福建省檢驗檢疫技術研究重點實驗室; 福建福州350001; 珀金埃爾默企業(上海)管理有限公司; 上海201203

摘要：建立了用單顆粒-電感耦合等離子質譜法(SP-ICP-MS)測定食品中納米二氧化鈦粒度分布、數量濃度的方法。采用20%強堿四甲基氫氧化銨(TMAH)處理樣品后,用單顆粒-電感耦合等離子質譜法(SP-ICP-MS)測定樣液中納米二氧化鈦粒度分布、數量濃度和溶解鈦離子含量。試驗結果:本方法測定食品中納米二氧化鈦顆粒粒度檢出限為45nm,樣液中納米二氧化鈦濃度檢出限約為8.3×10^5個/L,溶解鈦離子檢出限為0.2ng/mL;添加納米二氧化鈦和鈦離子的回收率分別約為109%和91.3%,并獲得相近的納米二氧化鈦粒徑分布。

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