樣品晶粒尺寸及高度偏差對XRD的影響 肖康; 王瓊; 蘇凡; 馬延文; 辛顥 南京郵電大學材料科學與工程學院; 江蘇南京210023; 南京林業大學現代分析測試中心; 江蘇南京210037 摘要:樣品晶粒尺寸及樣品高度偏差對XRD測試結果存在極大影響.實驗結果表明,晶粒尺寸過大會導致異于標準卡片的衍射峰出現,且衍射譜圖不具有重現性;樣品高度偏差則會導致衍射峰位移動,正高度偏差使衍射峰向高角度方向移動,負高度偏差使衍射峰向低角度方向移動,峰位移動量與高度偏差呈正比:△2θ=360cosθ/πR△h.樣品晶粒和高度偏差過大以致結果異常的情況應視為制樣錯誤, 注: 保護知識產權,如需閱讀全文請聯系廣州化學雜志社
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