融合試驗數(shù)據(jù)的模擬集成電路可靠性預(yù)計修正方法研究
摘要:以集成電路的特征尺寸和工藝水平為分類標(biāo)準(zhǔn),將標(biāo)準(zhǔn)手冊中的可靠性預(yù)計模型與實際的加速壽命試驗數(shù)據(jù)進行結(jié)合,得到集成電路可靠性預(yù)計修正方法。通過此可靠性預(yù)計修正方法,能計算出集成電路的工藝修正系數(shù)數(shù)值,進而應(yīng)用于可靠性預(yù)計模型之中,對集成電路可靠性預(yù)計方法進行修正。修正后的可靠性預(yù)計方法能夠更加準(zhǔn)確的對其可靠性進行預(yù)計,解決了現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)手冊模型不能完全準(zhǔn)確體現(xiàn)出制造工藝發(fā)展的實際問題。
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