基于雙D型光纖表面等離子共振折射率傳感研究
摘要:以雙D型光纖作為傳輸載體,研究了一種基于表面等離子共振技術(shù)的雙D型光纖折射率傳感器。利用時(shí)域有限差分法,分析了雙D型光纖剩余包層厚度、金膜厚度、金膜表面粗糙度以及雙通道傳輸對(duì)光纖SPR傳感器性能的影響。仿真結(jié)果表明,當(dāng)剩余包層厚度為300~500nm、覆蓋的金膜厚度為50nm時(shí),雙D型光纖SPR傳感器的性能得到優(yōu)化;金膜表面粗糙度也是影響傳感器性能的重要因素,當(dāng)金膜表面粗糙度的均方根值低于2nm或其相關(guān)長(zhǎng)度大于160nm時(shí),金膜表面粗糙度對(duì)傳感器性能的影響顯著減小,且在折射率為1.33~1.36的傳感環(huán)境下具有較好的線性度;在雙D型光纖兩側(cè)覆不同的金屬膜,可以實(shí)現(xiàn)信號(hào)的雙通道測(cè)量。
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