熒光衰減型光纖測(cè)溫
摘要:基于對(duì)熒光在不同溫度下壽命衰減曲線(xiàn)不同而提出的光纖測(cè)溫思路,研究了熒光衰減參數(shù)的測(cè)量方法以及熒光探頭的鍍膜方式,進(jìn)一步深入到對(duì)衰減參數(shù)卩的算法研究,并通過(guò)數(shù)據(jù)檢測(cè)和軟件模擬分析后擬合岀熒光衰減系數(shù)與溫度之間的線(xiàn)性關(guān)系。通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)試,證明660nm稀土材料熒光粉對(duì)溫度因變率較好,并成功制作光纖測(cè)溫傳感器探頭進(jìn)行數(shù)據(jù)測(cè)量,通過(guò)文中提出的擬合算法原理進(jìn)行溫度匹配,可以將準(zhǔn)確率保持在0.1%,達(dá)到熒光衰減測(cè)溫的精度要求,實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室中的溫度測(cè)量。
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