基于掃描隧道顯微鏡的原位表征技術
摘要：掃描隧道顯微鏡（scanning tunneling microscope, STM）是研究表面原子結構和表面電子態的強大工具,以STM為基礎,作者發展了原位微區四探針電輸運測量及交流互感抗磁測量系統,并且保留STM原有功能不受影響。這樣,不僅能夠在極低溫、強磁場、超高真空的環境下用STM研究樣品表面的晶體結構和電子態,也可以用原位微區四探針電輸運測量來研究樣品的輸運特性,還可以用原位的交流互感抗磁測量來研究樣品的抗磁特性。通過把這些信息對比,可以更好地了解樣品物性與原子結構和電子結構的關系,準確地理解表面的物理性質。這種聯合實驗技術非常適合應用于低維及界面超導研究。
注: 保護知識產權,如需閱讀全文請聯系電子顯微學報雜志社
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