基于STM32的熱敏探測器均勻性測試儀的設計
摘要:針對傳統熱敏探測器均勻性測試儀智能化程度低和系統運行實時性差的問題出了一種基于STM32F373的熱敏探測器均勻性測試儀的設計方法。測試儀由以STM32f373為核心的電路系統、光學聚焦系統、XY兩軸位置控制平臺、信號放大與采集系統和控制與顯示系統組成,上位機采用VB進行了系統編程。采用熱敏探測器進行系統測試,多次測試表明設計的均勻性測試儀的重復精度為0.82%,測試單點時間為1.49s,為小型化均勻性測試儀的設計提供了一種方法。
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