基于STM32的熱敏探測(cè)器均勻性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
摘要:針對(duì)傳統(tǒng)熱敏探測(cè)器均勻性測(cè)試儀智能化程度低和系統(tǒng)運(yùn)行實(shí)時(shí)性差的問題出了一種基于STM32F373的熱敏探測(cè)器均勻性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)方法。測(cè)試儀由以STM32f373為核心的電路系統(tǒng)、光學(xué)聚焦系統(tǒng)、XY兩軸位置控制平臺(tái)、信號(hào)放大與采集系統(tǒng)和控制與顯示系統(tǒng)組成,上位機(jī)采用VB進(jìn)行了系統(tǒng)編程。采用熱敏探測(cè)器進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試,多次測(cè)試表明設(shè)計(jì)的均勻性測(cè)試儀的重復(fù)精度為0.82%,測(cè)試單點(diǎn)時(shí)間為1.49s,為小型化均勻性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)提供了一種方法。
注: 保護(hù)知識(shí)產(chǎn)權(quán),如需閱讀全文請(qǐng)聯(lián)系農(nóng)業(yè)裝備與車輛工程雜志社