電離層E/F層閃爍對GPS TEC變化率的影響
摘要：電離層閃爍是一種能夠降低導航性能的自然現(xiàn)象,主要發(fā)生在極區(qū)和低緯度地區(qū)電離層的不同高度層中,包括E層和F層。為研究電離層E/F層閃爍對地面站估算的GPS總電子含量（TEC）變化率指數(shù)（ROTI）的不同影響,借助COSMIC觀測系統(tǒng)以及高速率GPS雙頻大地測量數(shù)據(jù)展開詳細分析,同時也探討GISM模型對其的預測能力。結果表明：電離層E層發(fā)生強閃爍（S4〉 0.6）,GPS ROTI未發(fā)生較大變化（ROTI≈0.02 TECU/min）;而F層發(fā)生強閃爍時,ROTI則出現(xiàn)明顯變化（ROTI≥2 TECU/min）;GISM模型能夠預測香港區(qū)域電離層夜間發(fā)生的強閃爍（預測值S4≥0.6）,但對于白天發(fā)生的閃爍模型預測S4結果均為0,此外,GISM模型預測結果中對電離層E/F層閃爍并無區(qū)分。
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